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krohne雷達液位計參數設置

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目前,村鎮污水治理納入了環境污染的重要版圖之一。
而德國公司在該領域深耕多年,針對水和廢水行業專門開發了兩款的雷達料位計和,主要不同之處在于量程。
圖為針對(廢)水處理行業的產品展示李強先生表示,的優勢是從整個的水和污水的處理廠,從液位測量到固體測量,以及連續測量,或者是料位開關,可以提供一個完整的解決方案。將為入駐氫能企業提供研發孵化生產檢測認證等一站式服務
作為一場跨國跨學科的科學探索工程,人工智能之火勢必會燃燒到制造業。
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傳統用戶的測量方式,大家習慣采用超聲波的方式,相對于雷達來講,容易受到介質溫度、泡沫、冷凝水等的影響,但雷達液位計對這些影響完全可以克服。
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危險區域:FM/CSA/ATEX
過程溫度:-150°C~+400°C
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測量難點: 1. 非滿管,不一定是標準管道,可以是矩形管等 2. 水中雜質多,甚至塑料袋、木塊、泥沙等 3. 管道、渠道內環境惡劣,氣味、甚至是沼氣含0成分 4. 安裝點沒有電源,數據信號傳輸困難 5. 維護困難 解決方案 1. 底部多譜勒超聲波流量計,頂部超聲波或雷達液位計。 2. 超聲波流量計集成熱式或電磁流速儀,雙模式、三模式工作,可靠性高。 3. 安裝時即設置清洗管路,人員在管道外清洗維護 4. 太陽能供電、GPRS數據無線傳輸 5. 傳感器自我診斷,異常數據報告,信息日志。 6. 專業的維護隊伍,快速現場服務貴陽底座式ADCP多少錢
多普勒效應是為紀念奧地利物理學家及數學家克里斯琴·多普勒(ChristianDoppler)而命名的,他于1842年首先提出了這一理論,主要內容為:物體輻射的波長因為波源和觀測者的相對運動而產生變化。在運動的波源前面,波被壓縮,波長變得較短,頻率變得較高;在運動的波源后面時,會產生相反的效應。波長變得較長,頻率變得較低;波源的速度越高,所產生的效應越大。根據波移的程度,可以計算出波源循著觀測方向運動的速度。Fshift/n:頻率改變量(Hz) Fsource:發射的超聲波頻率(Hz) C:聲速(m/s) V:反射面的水流速度(m/s) Vh:ADCP所在水層的平均流速(m/s) Vc:河道平均流速(m/s) H1:河水距離剖面儀的高度(m) D1:分層的層間距(m) W1:河水的寬度(m) S:河道斷面面積 Q:河道的總流量(m3/s)
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雷達液位計(物位計)如果按發射雷達波的頻率分,可分為高頻雷達和低頻雷達。在潤中儀表科技的雷達液位計(物位計)的產品系列中,RZRD1000A為頻率為26GHz的產品,RZRD1000B為低頻6GHz的產品是。高頻雷達發射的都是超過20GHz以上的高頻微波,根據波的特性:速度=波長*頻率,我們可以得知24GHz高頻的微波的波長較其他頻段的雷達波的波長要短的多。一般的講,固體料面的形狀是傾斜而且粗糙的,較小的波長可以大程度上保證發射出去的雷達波能夠在粗糙的固體表面大程度地被反射回雷達探頭。因而高頻雷達主要應用于固體介質和大量程場合的測量。低頻雷達發射微波頻率在100MHZ~6MHZ,主要應用于液體介質和小量程場合的測量。我們發現在企業的實際采購中,高頻的雷達液位計越來越受到青睞,毫無疑問,高頻的產品較之低頻的產品確實是有優勢的,細細分析一下其中的原因,有以下幾點:
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對于有些安裝位置無法避免的干擾波如圖2b的干擾波,還可利用VEGAPULS 雷達液位計識別虛假波的功能,液位計能根據實際液位標識出干擾反射波,并存于雷達液位計的內部數據庫,使雷達液位計在數據處理時能識別這些干擾波,去除這些干擾反射波的影響,保證測量的準確性。
4. 雷達液位計的維護
雷達液位計主要由電子元件和天線構成,無可動部件,在使用中的故障極少。使用中偶爾遇到的問題是,貯槽中有些易揮發的有機物會在雷達液位計的喇叭口或天線上結晶,對它們只要定期檢查和清理即可,維護量少。
在日常維護中,可以用PC機(裝有VEGAVisual Operating軟件)遠程觀察反射波曲線圖,對于后來可能新產生的干擾波,可以利用液位計有識別虛假波的功能,除去這些干擾反射波的影響,保證準確測量
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超聲波液位計和雷達液位計主要區別
聲波是機械波,遇到大的密度(氣-液-固)變化界面發生反射,傳播依靠介質,溫度、壓力對測量。
影響大,要引入溫度補償。一般不適用高溫或帶壓力測量。首先,超聲波物位計有溫度限制,一般探頭處溫度不能超過80度,并且聲波速度受溫度影響很大。其次,超聲波物位計受壓力影響很大,一般有求0.3MPa以內,因為超聲波是通過壓電物質的振動來發射的,壓力太大時發聲部件會受影響。第三,當測量環境中霧氣或粉塵很大時將不能很好的測量。
雷達探頭發出高頻脈沖并沿纜繩傳播,當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收,并將距離信號轉化為物位信號。以電磁波為檢測信號,在介電常數發生變化的界面發生反射,電磁波可在真空中傳播,基本不受溫度、壓力變化影響,所以可用于高溫、高壓場合。不適合用于極低介電常數介質的測量。
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